中圖儀器SuperViewW中圖精密光學粗糙度輪廓一體機以白光干涉技術(shù)為原理,能以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
SuperViewW中圖國產(chǎn)3d輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,3D非接觸式測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
?SuperViewW中圖儀器白光干涉儀光學輪廓儀品牌基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領域中。
中圖儀器SuperViewW3D顯微形貌與粗糙度光學輪廓儀通過干涉物鏡產(chǎn)生干涉條紋,使基本的光學顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮孑喞獌x。設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能。
SuperViewW非接觸式表面粗糙度光學輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
SuperViewW光學三維表面輪廓形貌儀能以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。
SuperViewW光學表面三維形貌輪廓測量儀以白光干涉技術(shù)原理,用于對各種精密器件表面進行納米級測量。通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
中圖光學3D表面形貌輪廓儀SuperViewW1基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸??蓮V泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領域中。
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